Eleonora Giudici, Antonio Miele, Luca Mottola · 2026 · arXiv
DOI: 10.48550/arXiv.2610.26724 · open-access PDF
Desenvolvemos um modelo de erro para um dispositivo de memória não volátil (NVM) que representa os efeitos de falhas físicas experimentadas em uma missão CubeSat em órbita baixa da Terra (LEO). O CubeSat carrega um chip de RAM ferroelétrico de baixa potência (FRAM) off-the-shelf e executa testes repetidos de leitura/escrita de acordo com um padrão predefinido. Comparamos cada snapshot de memória recebido do satélite com um bitmap de referência para identificar erros de bit. Analisamos visualmente as distribuições de valores errôneos nas snapshots de memória e entendemos que eles são freqüentemente distribuídos de acordo com padrões espaciais regulares.
Machine translation (Meta M2M100); the English original follows.
We develop an error model for a Non-Volatile Memory (NVM) device that represents the effects of physical faults experienced in a CubeSat mission in Low Earth Orbit (LEO). The CubeSat carries an off-the-shelf low-power Ferroelectric RAM (FRAM) chip and runs repeated read/write tests according to a predefined pattern. We compare every memory snapshot received from the satellite with a reference bitmap to identify bit errors. We visually analyze erroneous values distributions in the memory snapshots and we understand that they are frequently distributed according to regular spatial patterns. We d
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